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高低溫試驗箱

簡要描述:

高低溫試驗箱可以用來考核和確定電工電子產(chǎn)品或材料在溫度變化的環(huán)境條件下貯存和使用的適應性。設備采用強迫空氣循環(huán)來保持工作室內(nèi)溫度的均勻性。為限制輻射影響,設備內(nèi)壁各部分溫度與試驗規(guī)定的溫度之差不大于8%,且試驗樣品不會受到設備內(nèi)加熱與冷卻元件的直接輻射。

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高低溫試驗箱    

高低溫試驗箱產(chǎn)品說明

隨著現(xiàn)代工業(yè)技術(shù)的迅速發(fā)展,電工、電子產(chǎn)品的應用領域日益廣闊,所經(jīng)受的環(huán)境條件也愈來愈復雜多樣。只有合理地規(guī)定產(chǎn)品的環(huán)境條件,正確地選擇產(chǎn)品的環(huán)境防護措施,才能保證產(chǎn)品在儲存運輸中免遭損壞,在使用過程中安全可靠。因而,電工、電子產(chǎn)品進行人工模擬環(huán)境試驗是保證其高質(zhì)量所*的重要環(huán)節(jié)。人工模擬環(huán)境試驗是實際環(huán)境影響的科學概括,具有典型化、規(guī)范化、使用方便、便于比較等特點。環(huán)境條件的多樣化和環(huán)境試驗的重要性也對環(huán)境試驗設備提出了更嚴格的要求。

可以用來考核和確定電工電子產(chǎn)品或材料在溫度變化的環(huán)境條件下貯存和使用的適應性。設備采用強迫空氣循環(huán)來保持工作室內(nèi)溫度的均勻性。為限制輻射影響,設備內(nèi)壁各部分溫度與試驗規(guī)定的溫度之差不大于8%,且試驗樣品不會受到設備內(nèi)加熱與冷卻元件的直接輻射。

參照標準

滿足GB2423.1-2001試驗A《高溫試驗方法》; GB2423.2-2001試驗B《低溫試驗方法》以及其它相關標準的要求。嚴格按GB 10592—89《技術(shù)條件》進行設計制造,可進行相應高、低溫環(huán)境試驗。

主要技術(shù)參數(shù)

型號: GDW-100C型   

工作室尺寸(D×W×H): 400×500×500㎜

外型尺寸(D×W×H): 1050×1000×1550㎜

溫度范圍:   -40~100

溫度均勻度:   ≤ 2℃  (空載時)

溫度波動度:   ±0.5℃ (空載時)

溫度偏差:   ≤±2℃

升降溫速率:  0.7~1.0℃/min  (空載時)

時間設定范圍:   0~999 小時

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